NB/T 47013.3-2015《承壓設(shè)備無損檢測 第3部分：超聲檢測》 第1號修改單

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本修改單經(jīng)國家能源局于2018年5月14日以第7號公告批準(zhǔn)，自2018年7月1日起實(shí)施。

① 5.3.3.1.1條改用新條文：

   5.3.3.1.1 “直探頭選用一般應(yīng)按表3的規(guī)定進(jìn)行。在滿足5.3條規(guī)定的靈敏度及缺陷判定的基礎(chǔ)上，也可以選用其他型式的探頭，如雙晶直探頭或多晶直探頭（含板材厚度＞60mm時(shí)）。”

② 5.3.9.2 第一行中更改質(zhì)量分級級別：

“Ⅴ級”更改為“Ⅳ級”。

③ 表6更改為新表6：

新表6 承壓設(shè)備用板材中部檢測區(qū)域質(zhì)量分級

等級	最大允許單個(gè)缺陷指示面積S或當(dāng)量平底孔直徑D	在任意1m×1m檢測面積內(nèi)缺陷最大允許個(gè)數(shù)
		單個(gè)缺陷指示面積或 當(dāng)量平底孔直徑評定范圍	最大允許個(gè)數(shù)
TI	雙晶直探頭檢測時(shí)： S≤50mm2	雙晶直探頭檢測時(shí)：20mm2＜S≤50mm2	10
	或單晶直探頭檢測時(shí)： D≤Φ5mm+8dB	或單晶直探頭檢測時(shí)： Φ5mm＜D≤Φ5mm+8dB
I	雙晶直探頭檢測時(shí)：S≤100mm2	雙晶直探頭檢測時(shí)：50mm2＜S≤100mm2	10
	或單晶直探頭檢測時(shí)： D≤Φ5mm+14dB	或單晶直探頭檢測時(shí)： Φ5mm+8dB＜D≤Φ5mm+14dB
II	S≤1000mm2	100mm2＜S≤1000mm2	15
III	S≤5000mm2	1000mm2＜S≤5000mm2	20
IV	超過Ⅲ級者
注：使用單晶直探頭檢測并確定5.3.7.1 b）所示缺陷的質(zhì)量分級（T I級和Ⅰ級）時(shí)，與雙晶直探頭要求相同。

④ 表7更改為新表7：

新表7  承壓設(shè)備用板材邊緣或剖口預(yù)定線兩側(cè)檢測區(qū)域質(zhì)量分級

等級	最大允許單個(gè)缺陷指示長度Lmax	最大允許單個(gè)缺陷指示面積S或 當(dāng)量平底孔直徑D	在任一1m檢測長度內(nèi)最大允許缺陷個(gè)數(shù)
			單個(gè)缺陷指示長度L或 當(dāng)量平底孔直徑評定范圍	最大允許個(gè)數(shù)
TI	≤20mm	雙晶直探頭檢測時(shí)： S≤50mm2	雙晶直探頭檢測時(shí)： 10mm＜L≤20mm	2
		或單晶直探頭檢測時(shí)： D≤Φ5mm+8dB	或單晶直探頭檢測時(shí)： Φ5mm＜D≤Φ5mm+8dB
I	≤30mm	雙晶直探頭檢測時(shí)： S≤100mm2	雙晶直探頭檢測時(shí)： Φ10mm＜L≤30mm	3
		或單晶直探頭檢測時(shí)： D≤Φ5mm+14dB	或單晶直探頭檢測時(shí)： Φ5mm+8dB＜D≤Φ5mm+14dB
II	≤50mm	S≤1000mm2	25mm＜L≤50mm	5
III	≤100mm	S≤2000mm2	50mm＜L≤100mm	6
IV	超過Ⅲ級者
注：使用單晶直探頭檢測并確定5.3.7.1 b）所示缺陷的質(zhì)量分級（TI級和Ⅰ級）時(shí)，與雙晶直探頭要求相同。

⑤ 將5.6.4.1條中的“軸向”二字刪除。

⑥ 將5.6.4.2條中的“軸向”二字刪除。

① 8.4.6.2.3.1  b)條改用新條文：

   8.4.6.2.3.1  b)“工件厚度t＞15mm時(shí)，缺陷指示長度應(yīng)大于等于t/2或15mm（取大者,但最大為30mm）?！?/font>

②  附錄J的表J.1更改為新表J.1：

                      新表J.1  RB-L系列對比試塊尺寸（推薦）                     單位為mm

RB-L編號	工件厚度t	試塊厚度T	橫孔深度位置	橫孔直徑
RB-L-1	≥6~10	8	4	2.0
RB-L-2	＞10~16	14	4、10	2.0
RB-L-3	＞16~24	20	5、10、15	2.0
RB-L-4	＞24~36	30	5、10、20、25	2.0
RB-L-5	＞36~50	45	5、10、20、30、40	2.0
注：工件厚度t大于50mm時(shí)，試塊寬度應(yīng)滿足6.3.10.1的要求，橫孔深度位置最小可為10mm，深度間隔不超過20mm，試塊厚度與工件厚度之差不超過工件厚度的20%。

⑨ 附錄J的圖J.1更改為新圖J.1：

a） RB-L-1試塊

b） RB-L-2試塊

c） RB-L-3試塊

d） RB-L-4試塊

e） RB-L-5試塊

新圖J.1  RB-L系列對比試塊示意圖（推薦）

⑩ K.2.1條改用新條文：

    K.2.1 “對比試塊RB-C的形狀和尺寸見圖K.1。為方便試塊加工和靈敏度調(diào)節(jié)，也可使用如表K.1和圖K.2的試塊。”

11  附錄K的圖K.1后補(bǔ)充表K.1和圖K.2。

                    表K.1  RB-C系列對比試塊尺寸（推薦）                    單位為mm

RB-C編號	工件厚度t	試塊厚度T	橫孔深度位置	橫孔直徑
RB-C-1	≥6~10	8	4	2.0
RB-C-2	＞10~16	14	4、10	2.0
RB-C-3	＞16~24	20	5、10、15	2.0
RB-C-4	＞24~36	30	5、10、20、25	2.0
RB-C-5	＞36~50	45	5、10、20、30、40	2.0
注：工件厚度t大于50mm時(shí)，試塊寬度應(yīng)滿足6.3.10.1的要求，橫孔深度位置最小可為10mm，深度間隔不超過20mm，試塊厚度與工件厚度之差不超過工件厚度的20%。

a） RB-C-1試塊

b） RB-C-2試塊

c）RB-C-3試塊

d） RB-C-4試塊

e） RB-C-5試塊

圖K.2  RB-C系列對比試塊示意圖（推薦）

12 附錄K的表K.1序號更改為表K.2。

13 K.3.2條改用新條文：

   K.3.2“探頭折射角（K值）的選擇見表25，探頭標(biāo)稱頻率可按表K.2選擇?！?/font>

14 K.5.1條改用新條文：

   K.5.1“檢測面的選擇按表K.2進(jìn)行?！?/font>